涂層測(cè)厚儀測(cè)量有誤差，問題找到了嗎?
點(diǎn)擊次數(shù)：3957 更新時(shí)間：2022-03-11
涂層測(cè)厚儀是一種可無(wú)損的測(cè)量磁性金屬基體（例如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層（如鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）的厚度及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層（琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）的厚度的檢測(cè)儀器。
然而
涂層測(cè)厚儀在使用過程中，往往會(huì)因?yàn)楦鞣N因素會(huì)導(dǎo)致其測(cè)量出現(xiàn)很大的誤差，包括：
1、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
2、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
3、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）為了避免熱處理和冷加工因素的影響應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
6、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
8、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感因此必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
9、磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
10、測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
11、測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)因此要保持壓力恒定。
鄭由軍
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